Page 86 - XXIV Konferencja Automatyków Rytro 2026

1 w, k 2
s x   i  x   i, t j,  a   i (5)
wk 1  j 1 ,  t 1

Oszacowanie odchylenia standardowego s p, nieobciążonego, pojedynczej średniej p(j, t).
Oszacowanie to jest obliczane z pomiarów p(j, t) i charakteryzuje rozrzut wartości średnich
p(j, t) na całej powierzchni badanego obiektu:

1 w, k
2
s p   p   mtj,  (6)
wk 1  j 1 ,  t 1

Oszacowanie odchylenia standardowego, nieobciążonego s m, średniej średnich p(j,t)
charakteryzuje rozrzut przy powtarzaniu pomiaru w tym samym punkcie membrany, zależy
głównie od niejednorodności namagnesowania badanego materiału:

1 w, k 2
s m   p   mtj,  (7)
wk wk 1   j 1 ,  t 1

Interpretacja przedstawionych wzorów dla kształtu różnego od kwadratu wymaga
uzależnienia indeksów w i k od funkcji kształtu obwiedni badanego obiektu zarówno w
granicach sumowania jak i współczynnikach przed pierwiastkiem.

Interfejs aplikacji
Projekt interfejsu aplikacji zapewnia użytkownikom możliwość zadawania odpowiednich
parametrów procedury pomiarowej. Interfejs umożliwia wybór kształtu powierzchni
skanowania, precyzyjne określenie kroku pomiaru, rozmiaru powierzchni oraz wielu innych
istotnych parametrów.
Jednym z głównych założeń projektu było stworzenie skalowalnej aplikacji, która może
być rozwijana i dostosowywana do różnych potrzeb użytkowników. Opracowany interfejs
może być łatwo dostosowany do różnej specyfiki pomiarów, jest prosty w obsłudze nawet dla
użytkowników bez technicznego doświadczenia (rys. 2).

Tadeusz Skubis, System pomiarowy do badania równomierności pola magnetycznego str. 4
XXIV KONFERENCJA AUTOMATYKÓW RYTRO 2026 POLITECHNIKA ŚLĄSKA