Page 85 - XXIV Konferencja Automatyków Rytro 2026
P. 85

wymiarach  (X,  Y,  Z)  i  wykonywanie  pomiarów  seryjnych.  Pojedyncza  seria  pomiarowa
           obejmuje  skanowanie  zadanej  powierzchni w  płaszczyźnie  XY  na  określonej  wysokości  Z
           sondy  pomiarowej.  Komunikacja  między  skanerem  CNC,  miernikiem  pola  a  komputerem
           odbywa  się  za  pomocą  interfejsu  RS232,  zapewniając  szybką  i  niezawodną  transmisję
           danych.
              W  celu  akwizycji  i  interpretacji  danych  został  napisany  w  języku  C#  specjalistyczny
           program.  Program  zbiera  i  zapisuje  dane  w  bazie  SQLite  umożliwiając  efektywne
           gromadzenie  danych  pomiarowych,  a  jednocześnie  zapewniając  skalowalność  i
           niezawodność  procesu.  Zapisane  dane  są  następnie  wykorzystywane  do  generowania
           arkusza  w  programie  Excel,  który  zawiera  szczegółową  mapę  pola  magnetycznego  wokół
           badanych  obiektów  oraz  wskaźniki  liczbowe  umożliwiające  selekcję  materiałów  do
           konkretnych zastosowań.
              Istotnych  informacji  metrologicznych  na  temat  rozkładu  badanego  pola  dostarczają
           średnie  oraz  odchylenia  standardowe  wyznaczane  dla  poszczególnych  punktów  oraz  dla
           serii  pomiarów  w  każdym  punkcie. Wprowadzenie  odpowiednich  równań  matematycznych
           do  praktycznych  zastosowań  w  formie  numerycznej  często  stanowi  wyzwanie.  Jednakże,
           dzięki podejściu skoncentrowanemu na bezpośredniej implementacji tych równań w aplikacji,
           udało się znacznie uprościć ten proces. Poniżej przedstawiony jest zapis wszystkich równań
           w formie numerycznej. Aplikacja wyznacza trzy średnie: średnią a(i) z pomiarów i-tej serii,
           wykonanej dla wszystkich punktów pomiarowych membrany (1), średnią p(j,t) w punktach o
           współrzędnych j, t liczoną z pomiarów wielokrotnych uzyskanych w n seriach oraz średnią m
           liczoną ze wszystkich średnich p(j,t).
              Średnia z pomiarów i-tej serii:

                                                     1    w, k
                                            a   i       x   ji ,,   t                                (1)
                                                    wk    j 1 ,   t 1


           gdzie: i – numer bieżącej serii pomiarów, j – numer bieżącego wiersza tablicy wyników, t –
           numer bieżącej kolumny tablicy wyników, n – liczba serii pomiarów, k – liczba wierszy tablicy
           pomiarów, w – liczba kolumn tablicy pomiarów.
              Średnia z pomiarów wielokrotnych z n serii:

                                                        1  n
                                            p  tj ),      x  ji ,,   t                               (2)
                                                        n   i 1

              Średnia ze wszystkich średnich:

                                                   1      n, w, k
                                            m               x  ji ,,   t                               (3)
                                                 nwk     i 1 ,   j 1 ,   t 1

              Wskaźniki  liczbowe  są  aktualizowane  po  każdym  skanowaniu  badanej  płaszczyzny.
           Przykładowo aktualizacja średniej m dla n serii (ozn. m n) do średniej (ozn. m n+1), po dodaniu
           kolejnej serii, o numerze n+1 wygląda następująco:

                                                1             w, k              
                                    m  n 1         nm n    nx    ,1       t j,                    (4)
                                              n  1            j 1 ,   t 1    

              W aplikacji wyznaczane są również następujące oszacowania odchyleń standardowych:
              Oszacowanie odchylenia standardowego s x(i) nieobciążonego, pojedynczego wyniku w i-
           tej serii:
           Tadeusz Skubis,  System pomiarowy do badania równomierności pola magnetycznego         str. 3
                             XXIV   KONFERENCJA   AUTOMATYKÓW   RYTRO   2026       POLITECHNIKA ŚLĄSKA
   80   81   82   83   84   85   86   87   88   89   90